Khảo sát sự biến đổi một số chỉ số điện thế kích thích thị giác trên trẻ nhược thị

Các tác giả

  • Lê Đình Tùng Tác giả

Tóm tắt

Nghiên cứu sử dụng phương pháp ghi điện thế kích thích thị giác bằng màn hình đảo PR-VEP trên 37 trẻ từ 4 đến 13 tuổi, được chẩn đoán nhược thị ở một hoặc cả hai mắt liên quan đến tật khúc xạ, nhằm khảo sát đặc điểm các sóng VEP. Kết quả cho thấy thời gian tiềm tàng của các sóng N75, P100, N145 ở nam và nữ tương ứng là 74,82 ± 5,10 ms và 72,66 ± 8,14 ms; 111,60 ± 10,31 ms và 110,62 ± 10,28 ms; 146,42 ± 10,25 ms và 152,07 ± 10,63 ms. Biên độ các sóng N75, P100, N145 ở nam và nữ tương ứng là 2,53 ± 2,03 µV và 2,34 ± 1,76 µV; 10,55 ± 5,07 µV và 10,20 ± 4,72 µV; 9,00 ± 5,88 µV và 8,87 ± 4,82 µV. Tần suất xuất hiện các sóng P100, N75 là 100%.

##plugins.themes.default.displayStats.downloads##

##plugins.themes.default.displayStats.noStats##

Lượt tải xuống

Đã Xuất bản

2014-05-30

Số

Chuyên mục

Bài báo